VM4800M电子芯片检查显微镜

VM4800M电子芯片检查显微镜
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VM4800M/DYJ-895芯片检测显微镜可以用于对不透明试样的显微观察。采用性能优良的无限远光学系统,具有模块化功能设计方案,让使用人员方便升级显微观察系统,实现偏光观察、暗场观察,荧光观察等功能。紧凑稳定的高强度机身,充分考虑了显微操作时的防振要求。仪器采用人机工程学设计,在操作显微观察中方便舒适,空间更广阔。正置(明暗场)芯片检测显微镜大范围的应用于透明,半透明试样或不透明试样物质,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。

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VM4800M电子芯片检查显微镜

DYJ-895芯片检测显微镜可以用于对不透明试样的显微观察。采用性能优良的无限远光学系统具有模块化功能设计方案让使用人员方便升级显微观察系统实现偏光观察、暗场观察荧光观察等功能。紧凑稳定的高强度机身充分考虑了显微操作时的防振要求。仪器采用人机工程学设计在操作显微观察中方便舒适空间更广阔。正置(明暗场)芯片检测显微镜大范围的应用于透明半透明试样或不透明试样物质比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹都能有很好的成像效果。

 

 上海仪器有限公司检测显微镜VM4800M检测显微镜VM4800M金相检测显微镜VM4800M倒置检测显微镜VM4800M芯片检测显微镜金相组织检测显微镜工业检测显微镜

技术参数

仪器配置 

型号 

DYJ-895 

目镜

大视野 WF10X(视场数Φ22mm)

 

明暗场无限远长距平场消色差物镜

PL L5X/0.12  BD  工作距离:9.70 mm

PL L10X/0.25 BD  工作距离:9.30 mm

PL L20X/0.40 BD  工作距离:7.23mm

PL L50X/0.70 BD  工作距离:2.50 mm

PL L80X/0.80 BD  工作距离:1.25 mm

载物台

机械式载物台,外形尺寸:280mmX270mm,移动范围:横向(X)204mm,纵向(Y)204mm

转换器

五孔(内向式滚珠内定位)

落射照明系统

12V50W卤素灯,亮度可调

内置视场光栏、孔径光栏、推拉式检偏器与起偏器

配磨砂玻璃、蓝、黄、绿滤色片

目镜筒

三目镜30˚倾斜, 可100%通光摄影

调焦机构

粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:0.7μm。

防霉

特有防霉系统

 

 

 

  

 选配件

  

 

 物镜

明暗场无限远长距平场消色差物镜 PL L40X/0.6 BD

工作距离:3 mm

明暗场无限远长距平场消色差物镜 PL L60X/0.75 BD  工作距离:1.90 mm

明暗场无限远长距平场消色差物镜 PL L100X/0.85 BD  工作距离:0.4 mm

目镜

大视野 WF16X(Φ11mm)

分划  10X(Φ18mm) 格值0.1mm/格

软件

金相组织图谱评级分析专用软件

金相图像测量分析软件

电脑型

1.金相显微镜 2.适配镜 3.摄像器(CMOS) 4.计算机(选购)

数码型

1.金相显微镜 2.适配镜 3.数码相机(选购)